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超景深显微镜在PCB缺陷检测中的实际应用
超景深显微镜通过景深扩展与图像融合技术,可在一幅图中同时看清高低不同的结构,成为PCB缺陷检测中常用的观察与测量工具。
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2026.09.18
优可测AM-7000白光干涉3D形貌测量系统:亚纳米级精度搭配400μm/秒高速扫描
优可测(Atometrics)推出的AM-7000白光干涉3D形貌测量系统,以高精度、超高速两大核心特点,面向精密制造领域提供表面质量检测方案。
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2026.09.17
都是粗糙度仪,触针式粗糙度仪与白光干涉仪到底有什么差别?
触针式粗糙度仪受限于接触损伤、仅测线粗糙度、复杂结构不可测及效率低;白光干涉仪以非接触面阵三维测量实现补充替代。优可测AM系列提供亚纳米级高效解决方案。
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2026.09.17
微透镜阵列:MicroLED光学升级的关键路径与检测方案
MicroLED向产业化推进的过程中,光效与光形控制是两道绕不开的技术门槛。微透镜阵列(MLA)作为同时兼顾光提取效率提升与光束整形的光学方案,正受到行业越来越多的关注。
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2026.07.27
微透镜阵列:从光学原理到智能制造检测
微透镜阵列(MicrolensArray,简称MLA)是微光学领域的重要元件,它的结构可以类比昆虫的复眼——由成百上千个直径在微米到毫米量级的微小透镜按特定规律排列组成,每个微透镜都能独立对光线进行调制,最终协同实现复杂的光学功能。
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2026.07.20
优可测 AM-8000 技术突破与选型对比
精密制造与科研检测领域,白光干涉仪作为纳米级表面形貌测量的核心设备,其性能直接影响产品品质与研发效率。优可测AM-8000系列作为新一代白光干涉仪产品,在继承前代技术积累的基础上,实现了多维度的性能提升与功能拓展。
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2026.07.09
白光干涉仪和原子力显微镜(AFM)精度谁更高?纳米级测量设备横向对比
纳米级测量技术是高端制造领域的重要支撑手段,其测量精度直接影响产品性能与生产良率。白光干涉仪与原子力显微镜(AFM)是目前应用较为广泛的两类纳米级表面形貌测量设备。
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2026.06.26
科普篇|iPhone17Pro换背板材料,隐藏着什么工艺变化?
iPhone 17 Pro 系列发售近半个月,关于其与前代手感差异的讨论众说纷纭。今天我们聚焦手机背板这一关键部件,用优可测白光干涉仪 AM 系列,通过测量表面粗糙度,量化直观对比四代机型手感差异。
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2025.10.09
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