行业案例_半导体检测_新能源测量_3C电子_客户应用-优可测

全部公司新闻行业案例知识科普科普视频

内窥镜透镜面型测量：PV、Pt 与曲率半径 R 的测量方法

内窥镜透镜面型测量：PV、Pt 与曲率半径 R 的测量方法

内窥镜透镜面型与曲率偏差直接决定成像清晰度与畸变。针对小口径透镜接触式测头无法进入、易划伤软质抛光面，且普通影像设备只能给出轮廓的问题，优可测白光干涉仪以非接触方式输出 PV/Pt 与曲率半径 R 拟合值。

0.9μm背后的纳米级战场：MLCC离型膜的 Sp 与 Sa 怎么测

0.9μm背后的纳米级战场：MLCC离型膜的 Sp 与 Sa 怎么测

MLCC离型膜涂层厚度向 0.9μm 逼近，膜面"平、稳、净"成为决定高容电容良率的关键，本文围绕MLCC离型膜的表面形貌控制，介绍白光干涉3D形貌测量以非接触方式获取面域形貌、实现亚纳米级重复性及国际标准化数据输出的技术路径，为超薄涂层面粗糙度检测和国产高端离型膜的一致性管控提供参考。

优可测白光干涉仪在医疗器件表面形貌测量中的应用

优可测白光干涉仪在医疗器件表面形貌测量中的应用

围绕医疗器件表面粗糙度这一功能参数，介绍优可测白光干涉仪在心脏支架、PCR试管、微流控芯片、人工晶状体、植入体与义齿等场景的非接触三维形貌测量应用，输出粗糙度、高度与宽度等可对标、可复现数据。

一个"看不见的纳米"，卡住了音响金属件的外观

音响金属件的表面粗糙度同时关联外观质感、装配配合与声学腔体性能，其验收常以面粗糙度 Sa 为核心指标。传统接触式粗糙度仪受测量维度、探针尺寸与接触损伤限制。本文基于白光干涉测量原理，论述 AM-7000 系列白光干涉仪在亚纳米级检测中的技术可行性。

CPO量产引爆磷化铟需求，衬底厚度翘曲关口如何守住？

CPO量产引爆磷化铟需求，衬底厚度翘曲关口如何守住？

CPO规模量产推动磷化铟衬底需求增长，厚度均匀性与翘曲度成为良率关键。APS系列单次扫描同步输出TTV、Bow、Warp等参数，为CPO激光器芯片制造提供可靠数据管控支撑。

0.2nm之争：白光干涉仪如何守住磷化铟衬底粗糙度底线

0.2nm之争：白光干涉仪如何守住磷化铟衬底粗糙度底线

磷化铟衬底是AI算力光通信的"黄金衬底"，其表面粗糙度直接决定外延质量与光模块良率。优可测白光干涉仪AM7000系列以非接触亚纳米级测量，覆盖粗抛到精抛全流程，助力客户实现0.2纳米以内的衬底粗糙度管控。

粗糙度、平面度，法拉第旋转片绕不开的两道考题

粗糙度、平面度，法拉第旋转片绕不开的两道考题

法拉第旋转片是光隔离器内部的核心晶体元件，承担着光模块中"单向阀门"的角色。它的晶体质量与表面状态，直接决定隔离器的插入损耗、隔离度与功率耐受能力。本文从法拉第旋转效应出发，以优可测白光干涉仪AM-7000在客户产线中的实测案例，拆解法拉第旋转片通光面两项关键参数——粗糙度与平面度的失效逻辑。

光谱共焦位移传感器最新应用案例大汇总

光谱共焦位移传感器最新应用案例大汇总

优可测近期落地的多行业光谱共焦位移传感器测量方案，覆盖光伏、芯片、3C电子等工业场景。

1 2 3 4 5 6 7

二维尺寸测量

粗糙度/台阶/三维形貌测量

2D/3D缺陷观测

膜厚/周期性3D结构测量

半导体量检测设备

深圳总部：深圳市福田区彩田路7006号深科技城C座6层

武汉分公司：武汉市东湖新技术开发区关山一路1号光谷

软件园恒隆大楼D8栋三单元一楼
苏州分公司：苏州工业园区西马环路16号西交大苏州科教

创新基地主楼102-104

成都分公司：成都高新区锦云东三巷1号金融麦田C104

服务热线：400 080 3885

Sales@atometrics.com.cn

Copyright © 2024 Atometrics 优可测 All rights reserved 鄂ICP备19020151号-2

网站地图隐私政策免责声明