薄膜厚度测量仪 AF系列

膜厚/周期性3D结构测量

概述

产品特性

产品规格

应用示例

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薄膜厚度测量仪 AF系列

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薄膜厚度测量仪 AF系列

超高精度 / 多层测量 / 场景丰富

透明薄膜半透明薄膜多层膜厚

偏差精准校正，实现超高分辨率；毫秒级别采样频率，比传统膜厚仪提升2~3倍更合适在线使用！支持Mapping模式，自动快速测量，单点时间＜0.5s，兼容2-12寸晶圆片。

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产品特性

应用示例

膜厚

光刻胶-膜厚

微流道-膜厚

制成薄膜-膜厚

玻璃键合-膜厚

钙钛矿-膜厚

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薄膜厚度测量仪AF系列

新能源高精度检测应用指南

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