优可测AM-7000白光干涉3D形貌测量系统:亚纳米级精度搭配400μm/秒高速扫描
优可测(Atometrics)推出的AM-7000白光干涉3D形貌测量系统,以高精度、超高速两大核心特点,面向精密制造领域提供表面质量检测方案。
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2026.09.17
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