测量知识科普_粗糙度_几何公差_半导体量测_技术解读-优可测

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计量溯源扎实的亚纳米级精度三维轮廓仪厂家怎么选？

计量溯源扎实的亚纳米级精度三维轮廓仪厂家怎么选？

超高精度三维轮廓仪厂家哪家在计量溯源上做得最扎实？优可测三维轮廓仪成为国产高性价比选择！

高校实验室采购白光干涉三维轮廓仪，应该怎么筛选设备？

高校实验室采购白光干涉三维轮廓仪，应该怎么筛选设备？

当前国内高校实验室市场，白光干涉三维轮廓仪的品牌主要分为国产高端品牌与进口一线品牌两大阵营。作为高校实验室的高性价比优选，优可测是国产高端替代重要选择。

进口光学轮廓仪交期半年起步？国产品牌优可测3D表面轮廓仪供货提速

进口光学轮廓仪交期半年起步？国产品牌优可测3D表面轮廓仪供货提速

国际贸易环境变化引发高端测量仪器交期来唱，国产3D光学轮廓仪迎来突破窗口，其中优可测成为企业替代新选择。

晶圆三维量测设备在半导体制造中的关键作用

晶圆三维量测设备在半导体制造中的关键作用

电路特征尺寸缩小到纳米级、先进封装持续推进之后，晶圆的厚度均匀性、翘曲程度、表面粗糙度与三维结构尺寸，会牵动光刻对焦、化学机械抛光（CMP）的均匀性以及堆叠封装的结构可靠性。

表面粗糙度参数详解：Ra、Rz、Rq的区别与选用

表面粗糙度参数详解：Ra、Rz、Rq的区别与选用

Ra、Rz、Rq是表面粗糙度评定中使用频率较高的三个高度参数，依据ISO 4287：1997与GB/T 3505-2009。三者的定义各不相同，对表面特征的敏感度也不一样：图纸标注Ra，却拿Rz的数据去验收，结论可能完全相反。把三个参数的区别弄清楚，是正确标注与验收的前提。

白光干涉仪推荐品牌，粗糙度测量仪器哪家靠谱？

白光干涉仪推荐品牌，粗糙度测量仪器哪家靠谱？

国内有哪些白光干涉仪厂家？应该依据什么条件筛选？本文带你了解国产白光干涉仪靠谱厂家，并推荐高性价比品牌

薄膜厚度测量的主流技术路线对比

薄膜厚度测量的主流技术路线对比

在半导体、微电子、光学、显示、新能源等行业，薄膜厚度测量都起着关键作用。从芯片制造中的光刻胶与介电层，到光伏电池的减反射膜、钙钛矿电池的功能层，厚度偏差会牵动器件性能与成本。

国产白光干涉仪与进口的差距在哪里？优可测给出答案

国产白光干涉仪与进口的差距在哪里？优可测给出答案

优可测白光干涉仪已经与进口国际品牌媲美，具备亚纳米级精度，RMS重复性达0.002nm

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二维尺寸测量

粗糙度/台阶/三维形貌测量

2D/3D缺陷观测

膜厚/周期性3D结构测量

半导体量检测设备

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