白光干涉仪 AM-8000系列

白光干涉仪 AM-8000系列

粗糙度/台阶/三维形貌测量

白光干涉仪 AM-8000系列

粗糙度/台阶/三维形貌测量

白光干涉仪 AM-8000系列

最高精度0.03nm / 智能化操作 / 超丰富应用场景

粗糙度三维形貌台阶高度

AM-8000系列在满足AM-7000系列高精度测量的同时，拥有更高效的智能操控，可一键自动寻找工件、对焦、调平，同时XY轴测量范围最高可达300×300mm、可满足Mapping多点位测量、非球面K值测量等需求。对比AM-7000系列，行程提升3倍、负载能力提升2.5倍、定位精度提升50%、移动拼接速度提升30%，适配更多种类干涉镜头，覆盖更广泛的应用场景。广泛应用于半导体、精密光学、3C、新能源等领域，为微纳结构测量、粗糙度检测提供高效解决方案。

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产品特性

应用示例

粗糙度

0.05nm 镜片粗糙度

齿轮拼接测量粗糙度

滚轴表面粗糙度

化妆品云母表面粗糙度

金属表面纹理测量

平面度

超光滑平面度测量

三维形貌

晶圆表面蚀刻测量

硅片表面形貌结构

电容元器件表面

晶圆切割深度

手机玻璃盖板划伤

微透镜复眼

PCB尺寸测量

台阶高度

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白光干涉3D形貌测量系统AM8000系列

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