白光干涉仪 AM8000系列
亚纳米级精度 自动对焦调平 多样化的测量功能和应用场景
粗糙度 三维形貌 台阶高度
AM8000系列在满足AM-7000系列高精度测量的同时，拥有更高效的智能操控，可一键自动寻找工件、对焦、调平，同时XY轴测量范围最高可达300×300mm、可满足Mapping多点位测量、非球面K值测量等需求。对比AM7000系列，行程提升3倍、负载能力提升2.5倍、定位精度提升50%、移动拼接速度提升30%，适配更多种类干涉镜头，覆盖更广泛的应用场景。广泛应用于半导体、精密光学、3C、新能源等领域，为微纳结构测量、粗糙度检测提供高效解决方案。
