封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列

半导体量检测设备

概述

产品规格

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封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列

半导体量检测设备

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封装基板3D自动检测设备

Elite Pro系列

超高测量精度 / 超高检测效率 / 超丰富测量工具

线宽线距盲孔pad防焊开窗阻焊偏移dimple粗糙度

超快扫描速度：垂直扫描速度，是传统机型的5倍；全自动测量：极简操作，轻松在线编程设定，自动测量；离线分析：可调取原始数据进行二次特定分析；离线编辑：通过ODB++程序进行离线编辑（选购）；丰富的测量功能。

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封装基板3D自动检测设备Elite Pro系列

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