产品中心
行业应用
服务与支持
资讯
知识中心
关于我们
联系我们
400-080-3885
中文
English
传感器
3D线激光测量仪 AR系列
激光位移传感器 SL系列
3D线光谱共焦传感器 AS系列
光谱共焦位移传感器 AP系列
二维尺寸测量
一键式影像测量仪 FM系列
一键式影像测量仪 FMX系列
粗糙度/台阶/三维形貌测量
白光干涉仪 AM-7000系列
白光干涉仪 AM-8000系列
2D/3D缺陷观测
超景深数码显微镜 AH系列
膜厚/周期性3D结构测量
薄膜厚度测量仪 AF系列
衍射三维形貌仪 NM系列
半导体量检测设备
晶圆三维量测设备 WPM系列
晶圆三维检测设备 WM系列
封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列
晶圆厚度/TTV/翘曲自动测量设备 APS系列
行业
半导体
新能源
3C消费类
材料
工具
精密光学
精密加工
显示面板
医疗
摩擦磨损
微纳加工
汽车
生物
航天航空
应用
粗糙度
高度/高度差
三维形貌
三维尺寸
摆动震动
定位
二维尺寸
膜厚
平面度
厚度
台阶高度
二维轮廓
失效分析
缺陷分析
显微测量
表面分析
材料分析
异物分析
生物观察
样机演示/测试
下载中心
售后服务
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
半导体制造入门
精密光学
精密加工
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
产品中心
传感器
二维尺寸测量
粗糙度/台阶/三维形貌测量
2D/3D缺陷观测
膜厚/周期性3D结构测量
半导体量检测设备
行业应用
行业
应用
服务与支持
样机演示/测试
下载中心
售后服务
资讯
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
知识中心
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
半导体制造入门
精密光学
精密加工
关于我们
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
首页
-
资讯
资讯
可关注微信公众号:优可测,实时获取优可测最新动向
全部
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
精度?材质?一文搞懂位移传感器到底怎么选!
近期收到很多客户选型问题,“高反光、透明材质应该用什么传感器测?”,“线激光和线光谱价格差距怎么这么大?”,“四种传感器都能测段差、高度、平面度,该怎么选择?
了解更多
2026.07.02
CPO大热,给先进封装技术又添一把火!
近期,台积电、NVIDIA、英伟达纷纷宣布CPO相关产品同步进入量产。可以看出,CPO已经从实验室走向了规模化商用。什么是CPO?这项技术对于现阶段大火的AI服务器、先进封装等产业,最大价值是什么?
了解更多
2026.06.26
白光干涉仪和原子力显微镜(AFM)精度谁更高?纳米级测量设备横向对比
纳米级测量技术是高端制造领域的重要支撑手段,其测量精度直接影响产品性能与生产良率。白光干涉仪与原子力显微镜(AFM)是目前应用较为广泛的两类纳米级表面形貌测量设备。
了解更多
2026.06.26
0费用科研福利|全国高校师生免费测样开启
为助力基础科研、硕博课题、毕业设计、期刊论文项目推进,优可测正式面向全国各大高等院校、科研院所课题组,开放白光干涉仪免费公益测样服务。
了解更多
2026.06.17
3D线激光传感器最新应用案例汇总
3D线激光测量仪依托激光三角测量原理工作,通过向物体表面投射激光线,搭配工业相机捕捉物体反射光线,精确计算物体的三维坐标信息,从而快速获取三维形状和尺寸数据。线激光传感器重复精度可达0.3微米,可高效满足高精度视觉定位、标定、3D测量、检测等多元化工业应用需求。
了解更多
2026.05.07
先进制程的“钻石”晶圆,从管控厚度开始
目前越来越普及的超薄晶圆,其厚度一旦低于50μm以下,硅片的机械脆性会大幅上升。若是利用硬度高、加工难度大的SiC、GaN等第三代半导体材料制成的晶圆,检测要求只会更严苛,精度要求也会更高。
了解更多
2026.04.30
百万仪器实测:黑胶唱片越听越旧?
用白光干涉仪、超景深显微镜实测观察:唱针对黑胶唱片磨损到底多大?
了解更多
2026.04.30
质检不踩坑!尺寸测量设备选型攻略
您是否已经配置了最合适的测量工具呢?或许,您离突破产品竞争力瓶颈只差一次测量仪器升级~
了解更多
2026.04.17
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12