产品中心
行业应用
下载中心
资讯
知识中心
关于我们
联系我们
400-080-3885
中文
English
传感器
3D线激光测量仪 AR系列
激光位移传感器 SL系列
3D线光谱共焦传感器 AS系列
光谱共焦位移传感器 AP系列
二维尺寸测量
一键式影像测量仪 FM系列
一键式影像测量仪 FMX系列
粗糙度/台阶/三维形貌测量
白光干涉仪 AM-7000系列
白光干涉仪 AM-8000系列
2D/3D缺陷观测
超景深数码显微镜 AH系列
膜厚/周期性3D结构测量
薄膜厚度测量仪 AF系列
衍射三维形貌仪 NM系列
半导体量检测设备
晶圆三维量测设备 WPM系列
晶圆三维检测设备 WM系列
封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列
晶圆厚度/TTV/翘曲自动测量设备 APS系列
行业
半导体
新能源
3C消费类
材料
工具
精密光学
精密加工
显示面板
医疗
摩擦磨损
微纳加工
汽车
生物
航天航空
应用
粗糙度
高度/高度差
三维形貌
三维尺寸
摆动震动
定位
二维尺寸
膜厚
平面度
厚度
台阶高度
二维轮廓
失效分析
缺陷分析
显微测量
表面分析
材料分析
异物分析
生物观察
下载中心
样机演示/测试
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
半导体制造入门
精密光学
精密加工
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
产品中心
传感器
二维尺寸测量
粗糙度/台阶/三维形貌测量
2D/3D缺陷观测
膜厚/周期性3D结构测量
半导体量检测设备
行业应用
行业
应用
下载中心
下载中心
样机演示/测试
资讯
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
知识中心
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
半导体制造入门
精密光学
精密加工
关于我们
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
首页
-
资讯
资讯
可关注微信公众号:优可测,实时获取优可测最新动向
全部
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
优可测AM-8000白光干涉仪入选2026未来产业科创先锋榜百强
10月13日,2026未来产业科创先锋榜在香港揭晓,优可测AM-8000白光干涉3D形貌测量系统入选百强产品。榜单由香港电子业商会等联合发起,以场景价值为核心标准,聚焦五大未来产业场景。
了解更多
2026.10.20
邀请函 | 优可测与您相约TPCA Show 2026
优可测将携半导体量测设备全系与白光干涉仪亮相TPCA show 2026
了解更多
2026.10.19
形貌测量仪怎么选,长期合作关键要点
挑选长期合作的形貌测量仪供应商,需遵循从明确需求、评估技术实力与品牌口碑,到验证设备性能、考量软件合规性,再到评估全周期服务的系统性流程。优可测为你解读长期合作的核心要点。
了解更多
2026.10.16
计量溯源扎实的亚纳米级精度三维轮廓仪厂家怎么选?
超高精度三维轮廓仪厂家哪家在计量溯源上做得最扎实?优可测三维轮廓仪成为国产高性价比选择!
了解更多
2026.10.15
高校实验室采购白光干涉三维轮廓仪,应该怎么筛选设备?
当前国内高校实验室市场,白光干涉三维轮廓仪的品牌主要分为国产高端品牌与进口一线品牌两大阵营。作为高校实验室的高性价比优选,优可测是国产高端替代首选。
了解更多
2026.10.13
进口光学轮廓仪交期半年起步?国产品牌优可测3D表面轮廓仪供货提速
国际贸易环境变化引发高端测量仪器交期来唱,国产3D光学轮廓仪迎来突破窗口,其中优可测成为企业替代新选择。
了解更多
2026.10.12
晶圆三维量测设备在半导体制造中的关键作用
电路特征尺寸缩小到纳米级、先进封装持续推进之后,晶圆的厚度均匀性、翘曲程度、表面粗糙度与三维结构尺寸,会牵动光刻对焦、化学机械抛光(CMP)的均匀性以及堆叠封装的结构可靠性。
了解更多
2026.10.12
表面粗糙度参数详解:Ra、Rz、Rq的区别与选用
Ra、Rz、Rq是表面粗糙度评定中使用频率较高的三个高度参数,依据ISO 4287:1997与GB/T 3505-2009。三者的定义各不相同,对表面特征的敏感度也不一样:图纸标注Ra,却拿Rz的数据去验收,结论可能完全相反。把三个参数的区别弄清楚,是正确标注与验收的前提。
了解更多
2026.10.10
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17