Ra、Rz、Rq是表面粗糙度评定中使用频率较高的三个高度参数，依据ISO 4287：1997与GB/T 3505-2009。三者的定义各不相同，对表面特征的敏感度也不一样：图纸标注Ra，却拿Rz的数据去验收，结论可能完全相反。把三个参数的区别弄清楚，是正确标注与验收的前提。
Ra（评定轮廓的算术平均偏差）：在一个取样长度内，轮廓偏距的算术平均值。它表征表面粗糙度的总体水平，是工程图纸中最常见的标注值，Ra值越小，表面越光滑。
Rq（评定轮廓的均方根偏差）：在一个取样长度内，纵坐标Zx的均方根值。由于对偏差做了平方处理，Rq对偏离中线较大的轮廓点更敏感。
Rz（轮廓最大高度）：在一个取样长度内，最大轮廓峰高（Rp）与最大轮廓谷深（Rv）之和。它由极值决定，对表面上单个极端缺陷，如深划痕、凸起颗粒，反应更明显。
同一个表面，Ra、Rq、Rz给出的是不同侧面的信息。
Ra取的是偏距幅值的平均，个别深谷或高峰会被大量平缓区域“平均”掉；Rz取的是峰谷之和，一个深划痕就能把它抬高。因此，当表面存在偶发划伤而整体平整时，Ra可能变化不大，Rz却会明显增大。
Rq的敏感点在于平方加权：与Ra相比，它对波动大的轮廓响应更强。当需要反映表面偏离中线的剧烈程度时，Rq比Ra更直观。
从数值关系上看，同一表面的Ra与Rq通常比较接近但不相等，Rz则由个别峰值决定，与Ra之间不存在固定的倍数关系。因此把不同参数混在同一张验收表里比对，本身就缺少可比性。
这也解释了一个常见现象：同一零件，用不同参数去对照验收标准，得出的合格与否可能不一致，问题不在仪器，而在参数口径没有对齐。
参数值是统计量，必须依托取样长度（lr）与评定长度（ln）。GB/T 1031-2009采用中线制（轮廓法）进行评定，基准线分为两类：算术平均中线是实际工程中常用的基准线；另一类依据到轮廓各点距离的平方和取极小值的原则确定，多用于高精度分析。
取样长度选取过短，无法完整反映轮廓起伏；选取过长，会把波纹度等低频成分混进来。GB/T 1031-2009对不同粗糙度值区间规定了对应的取样长度与评定长度，选对长度是结果可靠的前提。
另外，Rt（轮廓总高度）是在评定长度而非取样长度上定义的，因此对任何轮廓都有Rt≥Rz。选取取样长度时，还需与被测表面的加工纹理方向配合，避免取样路径歪斜带来偏差。
除了高度特性参数，评定还包含间距特性与形状特性两类。RSm（轮廓单元的平均宽度）属于间距特性，反映表面轮廓在水平方向的周期性，例如车削加工规律性刀纹的间距；Rmr(c)（轮廓支承长度率）属于形状特性，表征给定高度截面上实体材料所占的比例，与抗磨损能力相关，改变截取高度c可绘制出支承长度率曲线（Abbott-Firestone曲线），曲线越陡峭，说明峰谷分布越集中，耐磨特性越均衡。
常规机械加工的图纸标注，用Ra即可。批量生产中，Ra更适合作为过程控制的常规指标，Rz则适合作为极限缺陷的把关指标，两者配合使用，兼顾总体水平与最坏情况。
涉及耐磨性、疲劳强度、密封或涂装附着的场景，建议补充Rz或Rmr(c)，因为极端缺陷与承载比例对这些性能的影响更大。
光学、半导体等超光滑表面，可结合Rq以及三维参数使用。按ISO 25178，三维参数与二维参数存在对应关系：Sa（算术平均高度）对应Ra，Sq（均方根偏差）对应Rq，Sz对应Rz。优可测白光干涉仪AM系列涵盖国际标准的测量工具，可在同一台设备上完成线粗糙度与面粗糙度参数的计算。以AM-8000系列为例，其公开参数中RMS重复性可达0.002nm，检测精度小于1nm，适合微纳级表面的参数评定。
需要提醒的是，粗糙度参数的选用与现场验收直接挂钩。同一台设备上，切换Ra与Rz只是软件里的一次选择，但图纸、工艺文件与检测报告三处的参数必须统一，否则数据再准也无法作为判定依据。
图纸或检测报告标注粗糙度时，需要写清三件事：参数符号（如Ra）、数值与单位（如Ra 0.4μm）、取样长度或评定长度的约定。只写数值不写参数与长度，是最容易被忽略的歧义来源。另外，三维参数（Sa、Sq、Sz）与二维参数的对应关系，也应在新旧图纸交替时一并说明，避免因口径不同产生误判。
Ra反映总体水平，Rq强调偏离程度，Rz捕捉极端峰谷，三者各司其职。选用的关键在于先明确验收要控制的风险：是整体光滑程度，还是单个缺陷，或是承载与耐磨。把参数口径、取样长度与评定基准在图纸和检测报告中写清楚，粗糙度验收才不会因为“用的不是同一个参数”而产生争议。
