光谱共焦位移传感器 AP系列

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  • 光谱共焦位移传感器 AP系列
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    不受材质影响 / 超大角度特性 / 易用模块化软件
    厚度测量位移测量透明材料测量

    AP系列具有高精度测量,高速度采样,不挑材质稳定测量,灵活易用的优势。

    AP系列拥超小体积,超高角度特性;有高光强,真空使用等多种型号测头,可满足不同场景的检测需求。AP系列控制器具备多通道、多种通信方式,满足多种设备的数据通讯场景。

    设备可广泛应用于高度,厚度,位移,轮廓,震动等测量

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