光谱共焦位移传感器能够对多种与位移、尺寸相关的物理量进行高精度测量，具体如下：
1.精确测量位移和距离
微小位移测量：在精密机械加工和光学仪器制造中，可精确测量部件在微米级甚至亚微米级的位移变化。例如，监测光学镜片在镀膜过程中的微小位移，确保镀膜厚度的均匀性。
物体间距测量：能准确测量两个物体之间的间隙或距离。比如在电子设备组装中，测量芯片与散热片之间的间距，保证散热效果和电气性能。
2.进行物体尺寸测量
厚度测量：对于薄片材料，如金属箔、塑料薄膜、玻璃片等，可精确测量其厚度。在锂电池生产中，用于测量极片的涂布厚度，控制电池的性能和安全性。
直径测量：可测量圆柱状物体的直径，如光纤、微小轴类零件等。在光纤制造过程中，实时监测光纤的直径变化，保证光纤的传输性能。
3.检测物体表面形貌
平整度检测：能检测物体表面的平整度和平面度，判断是否存在凹凸不平或翘曲变形。在半导体硅片生产中，检测硅片表面的平整度，确保芯片制造的工艺精度。
轮廓测量：获取物体表面的轮廓信息，用于复杂形状物体的外形测量和质量控制。例如，测量汽车发动机缸体的内壁轮廓，检查是否存在加工缺陷。
4.用于位置定位和对准
自动化生产线定位：在自动化生产线上，精确确定物体的位置，实现机器人的精准抓取和装配。例如，在手机组装生产线中，定位手机外壳和零部件的位置，确保组装精度。
光学元件对准：在光学系统的组装和调试中，实现光学元件的精确对准。如在相机镜头的组装过程中，通过测量位移来准确调整镜片的位置，保证镜头的成像质量。
优可测 光谱共焦位移传感器AP系列，玻璃、金属、橡胶等各种材质均可测量，可进行：厚度、翘曲、同轴度、平整度、高度、轴跳动、面型、内径检测以及机械定位等等。
