九月深圳，与光同至
优可测携众多高精度测量方案亮相
第27届中国国际光博会
2026中国机博会武汉工博会
CIOE是全球极具规模与影响力的光电产业综合性展会，覆盖信息通信、激光、红外、精密光学、智能传感等全产业链。本届CIOE启用深圳国际会展中心多个展馆，其中3号馆（摄像头技术应用馆） 是本次展会的核心展区之一，集中展示了机器视觉、光学测量测试、光学注塑/模压非球面、蓝宝石及碳化硅加工等专业领域的前沿技术与解决方案。
白光干涉仪AM系列测量精度达0.03nm，可用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，以“面”的形式获取表面3D形貌，通过专用软件对3D形貌进行处理和分析，RMS重复性可达0.002nm。广泛应用于半导体晶圆、精密光学元件、MEMS器件等高端制造领域的微纳级表面形貌测量与质量控制。
FMX系列是优可测全新推出的高精度闪测仪，一次可完成1500+零件测量，单零件最高可测1500+尺寸；最高0.7微米的测量精度处于全球领先水平，是面向精密加工领域、满足零件批量测量的高精度测量仪器。
除以上两类展品外，优可测将同步展出众多高精度测量仪器、设备以及传感器：
一键式影像测量仪FM系列、超景深显微镜AH系列、薄膜厚度测量仪AF系列、3D线激光传感器AR系列、3D线光谱测量仪AS系列、全自动非接触厚度测量仪APS系列等。
欢迎各界人士前来优可测展台共同交流！
值得一提的是，优可测的九月不止于此。9月22-24日，优可测还将亮相2026中国机博会武汉工博会·半导体产业及电子技术主题展（武汉国际博览中心），展位号1007。深圳先见，武汉再会，优可测期待与您九月两度相逢。
