精密抛光件粗糙度不均，传统设备测量慢，无法快速反馈工艺，影响产品装配精度。
应用白光干涉快速测量技术，量化精密抛光件粗糙度，实时反馈工艺优化方向。
✅ 高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅ 非接触：光学扫描，无物理不损伤工件
✅ 三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅ 效率高：快速批量扫描，实现全检替代抽检
✅ 多维度：同步采集多类数据，支撑研发优化
