微透镜阵列（MLA）在光通信中解决光束准直、耦合损耗等核心挑战，其表面粗糙度、曲率半径（ROC）、光斑尺寸（SPD）及非球面度（K 值）直接影响光散射损耗与耦合效率，随着 CPO 和硅光技术普及，检测要求日益严苛。
采用白光干涉仪 AM 系列，亚纳米级精度，一次扫描同步输出 MLA 表面粗糙度、ROC、SPD、K 值等多维度光学参数，满足高速光模块与数据中心互联的精密检测需求。
