内窥镜透镜的面型与曲率偏差直接决定成像清晰度与畸变水平，是镜片能否投入镀膜与组装工序的关键判据。但小口径透镜的检测存在双重困难：接触式测头无法进入，且易划伤软质抛光面；普通影像设备只能给出二维轮廓，无法输出 PV、Pt 等面型参数与曲率半径 R 的拟合值，难以支撑面型合格性判定。
采用优可测白光干涉仪 AM 系列，以非接触光学方式直接对小口径透镜抛光面进行三维面形测量，无需测头接触，避免软质抛光面划伤；一次测量即可获得面型偏差 PV / Pt 数据并对曲率半径 R 进行拟合，满足 PV 控制在设计公差内、曲率半径 R 拟合精度与重复性要求较高的检测需求，为镜片进入镀膜与组装工序提供数据判据。
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