行业痛点
橡胶密封圈表面粗糙度偏差或平面度不合格均会导致密封不严，引发液体/气体泄漏，存在材料损失与安全隐患。传统接触式测量难以覆盖软质弹性材料的三维形貌，且可能损伤密封圈表面。
解决方案
采用白光干涉仪 AM 系列，非接触亚纳米级测量，一次扫描同步获取密封圈平面度、表面粗糙度及表面三维轮廓数据。光学扫描不接触软质表面，无需担心弹性形变干扰测量结果。
核心价值
非接触：光学扫描，不损伤软质弹性表面
三维同步：平面度 + 粗糙度 + 三维轮廓一次输出
亚纳米精度：RMS 0.002nm，密封面微观形貌清晰呈现
