微透镜阵列广泛应用于激光匀化、数字投影、消费电子成像等领域，曲率半径决定焦距位置，矢高影响成像均匀性与耦合性，粗糙度偏差可能导致部分微透镜失效甚至破坏整体成像效果，微小关键尺寸的快速精准测量是困扰厂商多年的痛点。
优可测白光干涉仪 AM 系列，一站式完成曲率半径、矢高（直径/高度）、粗糙度（实测 Ra 0.02701μm）、面型轮廓比对与 K 值计算四大检测项目。最高扫描速度 400μm/s，低至 0.02% 反射率的超滑镜片亦可精细采集成像。
✅ 全覆盖：曲率半径/矢高/粗糙度/面型四大项目一站检测
✅ 强角度：高 NA 镜头 + 弱光提取，微透镜边缘尺寸不遗漏
✅ 超灵敏：0.02% 反射率超滑表面亦可采集成像
✅ 高效率：400μm/s 扫描速度，SST 算法急速成像
