行业痛点
电子玻璃厚度不均匀或偏离标准，会导致强度不足、光学变形、易于破裂。不同型号玻璃因功能需求不同，成份与折射率存在差异，采用光学设备测量时不同样品间折射率差距成为需考虑的重点。
解决方案
优可测光谱共焦传感器AP系列搭建双头对射厚度检测方案，双头对射结构可直接识别透明材料、无需额外校准折射系数，解决了不同型号玻璃折射率差异导致的测量偏差难题。
核心价值
免校准：双头对射结构，无需校准折射系数。
高精度：分辨率20nm，重复性≤0.005mm。
多适配：不同型号玻璃通用，不受折射率差异影响。

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