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依托白光干涉核心技术与亚纳米级测量精度，APS 设备可精准检测 6 寸铌酸锂晶体的厚度、表面粗糙度及三维形貌，生成全尺寸 3D Mapping 图，为其在光电领域的应用提供可靠质量数据支撑。
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