潜望镜平面度影响手机拍照清晰度，传统设备测量慢，无法适配3C批量产线，漏判率高。
应用白光干涉技术，以Z轴分辨率量化潜望镜平面度，快速完成批量检测。
✅ 高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅ 三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅ 效率高：快速批量扫描，实现全检替代抽检
✅ 大范围：可实现大范围的快速检测
