OLED表面尺寸、高度差需精准量化，传统设备测量慢，参数偏差导致显示偏色、漏光。
应用白光干涉拼接测量技术，精准量化OLED表面尺寸及高度差，适配面板尺寸。
✅ 非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅ 三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅ 多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用
