OLED-表面尺寸

行业痛点
OLED表面尺寸、高度差需精准量化，传统设备测量慢，参数偏差导致显示偏色、漏光。

解决方案
应用白光干涉拼接测量技术，精准量化OLED表面尺寸及高度差，适配面板尺寸。

核心价值
✅非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用

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