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优可测提供专业、国际前沿的检测设备与技术服务，所涉及产品包括：传感器、视觉测量、粗糙度/台阶测量/三维形貌、显微镜、测量仪。
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硅片-表面金字塔结构
高精度
三维形貌
White
light
interference
3D
surface
profiler
行业痛点
硅片形貌微小复杂，传统设备无法捕捉细微结构，难量化参数，影响芯片性能。
解决方案
应用白光干涉500万像素扫描技术，无盲区捕捉硅片三维形貌，精准量化参数。
核心价值
✅高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用
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