超光滑镜片平面度需纳米级把控，传统设备精度不足，平面度偏差影响成像效果，抛光成本高。
应用白光干涉超光滑专属算法，以Z轴分辨率量化平面度，精准把控抛光节点。
✅ 高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅ 非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅ 多维度：同步采集多类数据，支撑研发优化
