柱面镜阵列-二维轮廓

行业痛点
柱面镜阵列二维轮廓需精准把控，传统设备仅能观察无法量化，参数偏差影响成像，导致镜片报废。

解决方案
应用白光干涉技术，精准量化柱面镜阵列二维轮廓参数，无需接触即可完成检测。

核心价值
✅高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用

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