行业痛点
云母表面形貌粗糙度需量化适配下游应用，传统设备仅能观察，无法提供精准数据，影响下游适配性。

解决方案
应用白光干涉技术，同步量化云母表面形貌与粗糙度，快速输出可追溯数据。

核心价值
✅高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅效率高：快速批量扫描，实现全检替代抽检
✅多维度：同步采集多类数据，支撑研发优化
✅多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用

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