光纤端面形貌、粗糙度与高度直接决定光耦合效果与信号传输质量，端面缺陷会导致回波损耗增大、插损增加，影响光模块整体性能。
采用白光干涉仪 AM 系列，非接触测量光纤端面三维形貌、表面粗糙度与高度。亚纳米级精度，一次性评估端面质量，保障光耦合效率与信号传输稳定性。
