镜片粗糙度需纳米级把控，传统设备无法精准量化，抛光过度浪费材料，不足影响成像。
应用优可测白光干涉仪AM系列，采用白光干涉纳米级测量技术，精准量化镜片粗糙度，判断抛光达标节点。
✅ 高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅ 非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅ 多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用
