google-site-verification=NJq5Ec6KYK0NOxjHk3NVOeGDspLg7AFwMkMFiCeKvDE
产品中心
行业应用
服务与支持
资讯
知识中心
关于我们
联系我们
400-080-3885
中文
English
传感器
3D线激光测量仪 AR系列
激光位移传感器 SL系列
3D线光谱共焦传感器 AS系列
光谱共焦位移传感器 AP系列
二维尺寸测量
一键式影像测量仪 FM系列
一键式影像测量仪 FMX系列
粗糙度/台阶/三维形貌测量
白光干涉仪 AM-7000系列
白光干涉仪 AM-8000系列
2D/3D缺陷观测
超景深数码显微镜 AH系列
膜厚/周期性3D结构测量
薄膜厚度测量仪 AF系列
衍射三维形貌仪 NM系列
半导体量检测设备
晶圆三维量测设备 WPM系列
晶圆三维检测设备 WM系列
封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列
晶圆厚度/TTV/翘曲自动测量设备 APS系列
行业
半导体
新能源
3C消费类
材料
工具
精密光学
精密加工
显示面板
医疗
摩擦磨损
微纳加工
汽车
生物
航天航空
应用
粗糙度
高度/高度差
三维形貌
三维尺寸
摆动震动
定位
二维尺寸
膜厚
平面度
厚度
台阶高度
二维轮廓
失效分析
缺陷分析
显微测量
表面分析
材料分析
异物分析
生物观察
样机演示/测试
下载中心
售后服务
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
半导体制造入门
精密光学
精密加工
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
产品中心
传感器
二维尺寸测量
粗糙度/台阶/三维形貌测量
2D/3D缺陷观测
膜厚/周期性3D结构测量
半导体量检测设备
行业应用
行业
应用
服务与支持
样机演示/测试
下载中心
售后服务
资讯
公司新闻
行业案例
知识科普
科普视频
知识中心
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
半导体制造入门
精密光学
精密加工
关于我们
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
首页
-
资讯
放大500倍后，彩色图片背后的秘密
2026-04-14
相关资讯
挑战光学测量极限！99.4% 吸光率，能骗过白光干涉仪吗？
2026.07.14
CD是如何记录音乐的？
2026.07.14
百万仪器实测：黑胶唱片越听越旧？
2026.04.30
返回列表
眼镜布擦眼镜最伤镜片？
上一篇：
百万仪器实测：黑胶唱片越听越旧？
返回列表
