探针-缺陷分析

行业痛点
做电子元器件缺陷分析，通常需要大倍率，高像素的观察，才能准确发现缺陷。传统显微镜无法便捷的调整观察角度。

解决方案
依托优可测超景深显微镜的1200万像素传感器和最高500倍的变焦功能，能很好的解决电子元器件缺陷观察的高清画面问题

核心价值
✅高清：500倍变焦，50+镜片组、确保高倍率画面清晰。
✅精细：1200万像素，1/1.7英寸CMOS图像传感器。
✅多角度分析：Z轴左右倾斜搭配平台旋转实现全方位多角度观察。

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