微透镜曲率半径需精准量化，传统设备测量易划伤镜片、精度不足，影响成像效果。
应用白光干涉非接触技术，精准量化微透镜曲率半径及三维形貌，避免镜片损伤。
✅ 高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅ 非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅ 三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅ 效率高：快速批量扫描，实现全检替代抽检
✅ 多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用
