柱面镜阵列二维轮廓需精准把控，传统设备仅能观察无法量化，参数偏差影响成像，导致镜片报废。
应用白光干涉技术，精准量化柱面镜阵列二维轮廓参数，无需接触即可完成检测。
✅ 高精度：纳米级测量，最高精度0.03nm
✅ 非接触：光学扫描，无物理接触，不损伤工件
✅ 三维扫：全范围无盲区，采集完整三维形貌
✅ 多功能：上百种测量工具，覆盖多维度测量参数，实现一机多用
