钙钛矿PVK厚度的差异,容易造成透光率/电流分布不均,导致寿命缩短、效率下降等问题,从而降低产品性能。
反射式膜厚仪精准测量钙钛矿PVK厚度的均匀性,实现工艺监控优化。
✅ 无损:非接触式测量,不损坏样品。
✅ 精度:0.1nm精度、可生成3D热力视图。
✅ 效率:单点检测速度<1s。