光学表面镀膜不均会导致色散、透过率不均、杂光等问题，从而影响器件自身功能性和精度。
反射式膜厚仪能够精准测量ITO镀膜的厚度，实现工艺监控优化。
✅ 无损：非接触式测量，不损坏样品。
✅ 精度：0.1nm精度、可生成3D热力视图。
✅ 效率：单点检测速度＜1s。
