行业痛点
光学表面镀膜不均会导致色散、透过率不均、杂光等问题，从而影响器件自身功能性和精度。

解决方案
反射式膜厚仪能够精准测量ITO镀膜的厚度，实现工艺监控优化。

核心价值
✅无损：非接触式测量，不损坏样品。
✅精度：0.1nm精度、可生成3D热力视图。
✅效率：单点检测速度＜1s。

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