光学薄膜厚度不均匀，将影响薄膜性能。
反射式膜厚仪能精准测量光学薄膜厚度，实现工艺监控优化。
✅ 无损：非接触式测量，不损坏样品。
✅ 精度：0.1nm精度、可生成3D热力视图。
✅ 效率：单点检测速度＜1s。
