行业应用
优可测按行业分类展示高精度三维测量应用案例:新能源、半导体、3C电子、精密光学、汽车零部件、航天航空等行业精密检测方案。

BGA(球栅阵列封装)银色焊球共面度

共面度先进封装非接触扫描
BGA(球栅阵列封装)银色焊球共面度测量_优可测
BGA(球栅阵列封装)银色焊球共面度测量_优可测

行业痛点

BGA(球栅阵列封装)银色焊球的共面度,指所有焊球底部端点是否处于同一理想平面上,通常以最高点与最低点之间的高度差衡量。差值越小,共面度越好。共面度超差会直接引发三类问题:一是虚焊与开焊,这是最直接的失效原因;二是桥接短路,焊球高度不一致时易在回流过程中连锡;三是焊接应力分布不均,影响长期可靠性。

解决方案

某客户找到优可测,要求对BGA银色焊球共面度进行测量,场景的验收标准为 ±5μm。经过工程师选型与技术支持,客户选择采用优可测 AR 系列 3D 线激光测量仪,以非接触线扫描方式获取 BGA 焊球阵列的三维高度数据。一次扫描即可覆盖整排焊球,输出各焊球的顶部高度,并计算最高点与最低点的高度差,直接对应 ±5μm 的共面度判定要求;测量过程不与焊球接触,避免损伤焊球形态与二次污染。

核心价值

  • 共面度直接输出:自动计算最高点与最低点高度差,直接对应 ±5μm 判定标准
  • 整排一次扫描:线扫描覆盖多个焊球,无需逐点采集,适配批量检测节奏
  • 非接触不损伤:光学测量不触碰焊球,避免形态损伤与二次污染
  • 焊接风险前置:在回流焊前筛出共面度异常批次,降低虚焊、开焊与桥接风险
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