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白光干涉系列 半导体 光学镜片 3C制造 材料 能源电池 航天航空 医疗器械 线激光系列
首页 >> 应用场景 >> 白光干涉系列

柱面镜阵列

采用 50X 弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法(VSI)

微透镜复眼测量

采用 100X 弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法(VSI)

掩膜版测量

通过100X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉法

PCB尺寸测量

通过100X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉法

电容元器件表面测量

采用 50X 弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法(VSI)

晶圆表面粗糙度测量

采用10X弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法

金属表面纹理测量

采用10X弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法

表面划痕深度检测

采用10X弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法

齿轮拼接测量粗糙度

化妆品云母表面形貌粗糙度

采用 10X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉法(VSI)

超光滑镜面拼接粗糙度测量

测量使用 20X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉(VSI)

镜片模具测量

采用 20x 迈克尔逊干涉物镜和垂直扫面干涉法(VSI)

芯片高度测量

使用EX230, 20X测量镜头

芯片尺寸测量

使用EX230,20X测量镜头

微流道测量

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