芯片高度测量

使用EX230, 20X测量镜头

芯片尺寸测量

使用EX230，20X测量镜头

微流道测量

心血管支架粗糙度测量

铜箔粗糙度测量

液晶膜类测量

晶圆表面蚀刻测量

0.05nm 镜片粗糙度

柱面镜阵列

采用 50X 弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法（VSI）

齿轮拼接测量粗糙度

电容元器件表面测量

采用 50X 弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法（VSI）

化妆品云母表面形貌粗糙度

采用 10X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉法（VSI）

超光滑镜面拼接粗糙度测量

测量使用 20X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉（VSI）

镜片模具测量

采用 20x 迈克尔逊干涉物镜和垂直扫面干涉法（VSI）

PCB尺寸测量

通过100X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉法